如何檢測修理電路板？

下面，小編將會為你詳細介紹檢測修理電路板的幾點經驗：

一、故障現象的分佈

1、電路板故障部位的不完全統計：

晶元損壞30%；分立元件損壞30%；連線（PCB板敷銅線）斷裂30%；程序破壞或丟失10%（有上升趨勢）。

2、由上可知，當待修電路板出現聯線和程序有問題時，又沒有好板子，既不熟悉它的連線，找不到原程序，此板修好的可能性就不大了。

二、晶體振蕩器

1、通常只能用示波器（晶振需加電）或頻率計測試，萬用表等無法測量，否則只能採用代換法了。

2、晶振常見故障有：內部漏電；內部開路；變質頻偏；外圍相連電容漏電。這裡漏電現象，用<測試儀>的VI曲線應能測出。

3、整板測試時可採用兩種判斷方法：測試時晶振附近即周圍的有關晶元不通過；除晶振外沒找到其它故障點。

4、晶振常見有兩種：兩腳；四腳，其中第2腳是加電源的，注意不可隨意短路。

三、功能與參數測試

1、<測試儀>對器件的檢測，僅能反應出截止區、放大區和飽和區，但不能測出工作頻率的高低和速度的快慢等具體數值等。

2、同理對TTL數字晶元而言，也只能知道有高低電平的輸出變化，而無法查出它的上升與下降沿的速度。

四、複位電路

1、待修電路板上有大規模集成電路時，應注意複位問題。

2、在測試前最好裝回設備上，反覆開、關機器試一試，以及多按幾次複位鍵。

五、帶程序的晶元

1、EPROM晶元一般不宜損壞，因為這種晶元需要紫外光才能擦除掉程序，所以在測試中不會損壞程序，但有資料介紹說，因製作晶元的材料所致，隨著時間的推移（年頭長了）即便不用也有可能損壞（主要指程序）所以要儘可能給以備份。

2、EEPROM、SPROM等以及帶電池的RAM晶元，極易破壞程序，這類晶元是否在使用<測試儀>進行VI曲線掃描后，是否就破壞了程序，還未有定論。儘管如此，朋友們在遇到這種情況時，還是小心為妙。

3、對於電路板上帶有電池的晶元，不要輕易將其從板上拆下來。